特高壓電力旗下的絕緣電阻測試儀可以幫助眾多電力工作者更加方便的進(jìn)行各類電力測試。

了解 IR 測試結(jié)果：

獲得的 IR 測試測量值旨在表明電氣絕緣的完整性，而 IR 水平越高，絕緣狀況越好。理想情況下，IR 測試讀數(shù)應(yīng)處于無限水平。然而，由于沒有完美的絕緣體，并且漏電流會流過介電材料，在導(dǎo)電部件之間，它確保可以測量有限的電阻值。在執(zhí)行 IR 測試時，通常檢測到三種類型的電流。了解所有三種類型的電流以及它們?nèi)绾斡绊?IR 讀數(shù)非常重要：

1.電容充電電流是在施加直流電壓時流過的電流，用于對被測絕緣系統(tǒng)和大地之間的電容充電。當(dāng)電容器充電時（即在 1 秒內(nèi)），該電流水平在第一個實例中會很高，然后迅速下降到零。

2.介電吸收電流是由絕緣系統(tǒng)吸收的極化電流，以使介電材料內(nèi)的偶極子與施加的電場對齊。這個電流水平最初很高，但隨著絕緣中的偶極子變得越來越極化（即大約 10 分鐘到幾小時），它會逐漸下降。

3.泄漏電流是通過絕緣材料中可能存在的任何泄漏路徑連續(xù)流到地的電阻電流。顯然，低泄漏電流水平意味著絕緣系統(tǒng)處于良好狀態(tài)。在良好的絕緣材料中，漏電流水平也應(yīng)隨時間或多或少地保持恒定。

雖然在 IR 測試期間監(jiān)控所有三種類型的電流很有用，但泄漏電流和介電吸收電流都是評估絕緣整體完整性最常用的兩種測量方法。然而，電容充電電流測量也是絕緣介電材料使用年限和性能的有用指標(biāo)。除非您使用永久安裝的自動 (PIA) IR 測試系統(tǒng)來測試設(shè)備，否則很難檢測到這種類型的電流。這是因為電容充電電流導(dǎo)致 IR 讀數(shù)最初非常低，然后會在幾秒鐘內(nèi)迅速上升到更高的讀數(shù)。這種情況表明絕緣狀況良好，使用壽命也很好。

介電吸收或極化電流測量與時間相關(guān)，因為在施加直流測試電壓時電流會隨著時間緩慢下降。這種類型的電流測量通常稱為介電吸收比 (DAR) 或極化指數(shù) (PI) 比測試。在執(zhí)行這些測試時，IR 讀數(shù)用于創(chuàng)建 DAR 測試的 30 秒和 60 秒 IR 讀數(shù)之間的比率，或 PI 測試的 1 分鐘和 10 分鐘 IR 讀數(shù)之間的比率。DAR 測試的最小比率為 (1.6) 或 PI 測試的最小比率為 (3) 表明絕緣處于可接受的狀態(tài)。任何小于這些最小值的比率都表明存在通過絕緣材料的平行泄漏路徑，這表明存在問題。絕緣劣化的最常見原因是介電絕緣材料上的表面水分。水分會通過絕緣材料中的裂縫或缺陷產(chǎn)生平行的泄漏路徑。這些測試對于確定絕緣材料當(dāng)前的“實時”電氣狀況非常有用。

泄漏電流測量值是指示絕緣的整體介電條件的最常用值，并且是在 IR 測試期間測量的電流。泄漏電流與時間和頻率有關(guān)，這意味著執(zhí)行的測試次數(shù)和執(zhí)行測試的持續(xù)時間會影響測試結(jié)果。理想情況下，IR 測試讀數(shù)應(yīng)隨著時間緩慢增加，然后保持穩(wěn)定一致的水平。這種類型的測試，當(dāng)手動完成時，通常作為“點式”測試執(zhí)行，并受測試時絕緣環(huán)境溫度的影響。然后，IR 讀數(shù)需要進(jìn)行溫度轉(zhuǎn)換才能獲得當(dāng)時的真實泄漏電流。

隨著時間的推移，眾多測試結(jié)果變得平均，從而產(chǎn)生與溫度無關(guān)的泄漏電流讀數(shù)，這意味著這些 IR 讀數(shù)不需要溫度校正，結(jié)果值為絕緣的“真實”泄漏電流。理論上，即使 IR 讀數(shù)低于標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的建議的最低安全水平，低 IR 泄漏電流讀數(shù)長期保持且不波動也是可以接受的。IR 測試讀數(shù)以高水平開始，然后隨著時間的推移顯著下降，則被認(rèn)為是不可接受的，并且表明絕緣存在缺陷。IR 測試讀數(shù)從低水平開始，然后緩慢上升到初始水平的四倍以上，表明絕緣處于新的或良好的運行狀態(tài)。